Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz

dc.contributor.advisor	Araya Pochet, José Alberto
dc.creator	Ramírez Porras, Arturo
dc.date.accessioned	2013-09-30T20:53:48Z
dc.date.accessioned	2021-09-06T23:13:37Z
dc.date.accessioned	2024-08-26T01:28:14Z
dc.date.available	2013-09-30T20:53:48Z
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dc.date.created	2013-09-30T20:53:48Z
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dc.date.issued	2005
dc.description.procedence	UCR::Vicerrectoría de Investigación::Sistema de Estudios de Posgrado::Ingeniería::Maestría Académica en Ingeniería Eléctrica con énfasis en Sistemas Digitales
dc.identifier.citation	https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10669/99066
dc.language	es
dc.rights	acceso abierto
dc.subject	OPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONES
dc.subject	SILICIO - PROPIEDADES ELECTRICAS
dc.subject	DIODOS EMISORES DE LUZ
dc.subject	DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS
dc.title	Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
dc.type	tesis de maestría

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