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Reducción de la variabilidad de producto defectuoso en el área de SMT de la empresa General Microcircuits Inc., a través de la metodología DMAMC

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dc.contributor.advisorGonzález Chacón, Georgina
dc.creatorHernández Rodríguez, Esteban
dc.creatorRodríguez Baltodano, Guirsley
dc.date.accessioned2023-03-08T16:38:43Z
dc.date.accessioned2024-08-25T22:37:01Z
dc.date.available2023-03-08T16:38:43Z
dc.date.available2024-08-25T22:37:01Z
dc.date.created2023-03-08T16:38:43Z
dc.date.issued2021
dc.description.procedenceUCR::Vicerrectoría de Docencia::Ingeniería::Facultad de Ingeniería::Escuela de Ingeniería Industrial
dc.identifier.citationhttps://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/18198
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10669/94133
dc.languagees
dc.rightsacceso abierto
dc.subjectCIRCUITOS IMPRESOS - PRODUCCION
dc.subjectCONTROL DE CALIDAD
dc.subjectCONTROL DE LA PRODUCCION
dc.subjectCONTROL DE PROCESOS
dc.subjectGESTION INDUSTRIAL - COSTA RICA
dc.subjectGeneral Microcircuits, Inc. (Costa Rica)
dc.subjectPROCESOS DE MANUFACTURA
dc.subjectSEIS SIGMA (CONTROL DE CALIDAD ESTANDAR)
dc.titleReducción de la variabilidad de producto defectuoso en el área de SMT de la empresa General Microcircuits Inc., a través de la metodología DMAMC
dc.typeproyecto fin de carrera

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