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dc.contributor.authorRamírez Porras, Arturoes_ES
dc.contributor.authorFonseca, L. F.es_ES
dc.contributor.authorResto, O.es_ES
dc.date.accessioned2010-08-03T02:17:42Zes_ES
dc.date.available2010-08-03T02:17:42Zes_ES
dc.date.issued2003es_ES
dc.identifier.citationhttp://www.mrs.org/s_mrs/sec_subscribe.asp?CID=2555&DID=117919&action=detailes_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10669/329es_ES
dc.description.abstractA stochastic distribution of nanocrystalline sizes model is applied to fit photoluminescence (PL) spectra of luminescent Si nanocrystals in a Si/SiO2 matrix synthesized by RF co-sputtering on the top of quartz substrates. With this method, the PL spectra from a diverse set of samples can be resolved mainly as the sum of two components: a contribution from a gaussian-like distribution of sizes of quantum dots (QD) and a similar component from a distribution of quantum wires (QW). These distributions of sizes and their associated PL energies agree well with the so-called Smart Quantum Confinement model (SQC).en
dc.description.sponsorshipVicerrectoría de Investigación (UCR), Comisión Nacional de Investigaciones Científicas y Tecnológicas (CONICIT); Ministerio de Ciencia y Tecnología (MICIT); Fundación de la Universidad de Costa Rica para la Investigación (FUNDEVI). Contrapartidas externas: U.S. Army Research Office (grant #41002-MS-DPS); NASA (grant #NCC5-518).es_ES
dc.language.isoen_USes_ES
dc.publisherMaterials Research Society Symposium Proceedings 737 (2003)en
dc.subjectSilicio porosoes_ES
dc.subjectConfinamiento cuánticoes_ES
dc.titleEstimation of Silicon Nanocrystalline Sizes from Photoluminescence Measurements of RF Co-Sputtered Si/SiO2 Filmsen
dc.typeArtículo científicoes_ES
dc.description.procedenceUCR::Investigación::Unidades de Investigación::Ciencias Básicas::Centro de Investigación en Ciencia e Ingeniería de Materiales (CICIMA)es_ES


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